Detalles de autor/a

Munguia Cevantes, Jacobo Esteban, CNMN-Instituto Politécnico Nacional, México

• Superficies y Vacío Vol. 30 Núm. 1 (2017) Artículos de Investigación
  Si3N4 Young’s modulus measurement from microcantilever beams using a calibrated stylus profiler
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