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Pons Flores, Cesar Adrian, Departamento de Ingeniería Eléctrica, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, Instituto Politécnico Nacional., Mexico

• Superficies y Vacío Vol. 30 No. 3 (2017) Research Papers
  Influence of active layer thickness, device architecture and degradation effects on the contact resistance in organic thin film transistors
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