Detalles de autor/a

Ambrosio, R. C., Electrical and Computer Engineering Department, Instituto de Ingeniería y Tecnología Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

• Superficies y Vacío Vol. 26 Núm. 1 (2013) Artículos de Investigación
  Analysis of threshold voltage fluctuations due to short channel and random doping effects
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