Vol. 3 (1991)

Diciembre, 1991.

Editado por: Isaac Hernández Calderón, Victor Castaño, Jose Manuel Domínguez

Simulación analógica de los efectos anarmonicos en una red quasiperiodica bidimensional 1
R. Fuentes, O. Navarro y Ch. Wang, R. A. Barrio y R.G. Barrera,

Dispersión angular fononica de un cristal triclinico 6
E. Gómez, H. W. Schrotter, R. Claus,

Epitaxia de InP por CSVT 12
J. Mimila-Arroyo, R. Gonzáles, M. Galván y J. Díaz.

Películas semiconductoras ternarias crecidas por evaporación mediante laser pulsado de alta intensidad 15
G. Contreras Puente, A. Compaan, y A. Aydinli.

Fotoluminiscencia en películas de Al2O3 Impurificado con Ce 20
O. F. Miranda Romagnoli, M. García, A. Ortíz, J. S. Helman, y C. Falcony.

Medición de tiempos de atrapamiento en películas de CdTe mediante fotoconductividad AC y DC 24
M. García-Rocha, I. Hernández-Calderón.

Amplificaciones de la transformada de "WAVELETS" (ONDOLETAS) al procesamiento de imágenes de microscopio eléctronico y de patrones de retro-reflexión 30
L. Beltrán del Río, A. Gómez, D. Romeu y M. José Yacamán

Celda para la reproducción del punto triple del mercurio 39
Jaime Valencia Rodríguez, Juan M. Figueroa y Rafael Zepeda F.

Transferencia de películas epitaxiales de silicio sobre aislante por adhesion térmica de obleas 44
G. Romero P.

Fabricación y estudio de dispositivos de memoria a base de películas de oxido de silicio rico en silicio 49
W. Calleja, M. Aceves, C. Falcony, R. Osorio.

Caracterización de silicio poroso por elipsometría 53
G. Romero P.

Medida del Nitrógeno en aceros nitrurados usando reacciones nucleares 58
J. Richards, E. Andrade, E. P. Zirony y R. Trejo-Luna.

Características de la interacción de Ni Metalico con Metano 63
H. M. A. Cuán , G. E. Poulain , S. A Ramírez. y R Gómez .

Caracterización por M. E. ferrisilicatos sintetizados con diferentes fuentes de Si 68
O. Guzmán, P. del Angel, Ma. L. A. Guzmán y J. Lorenzo.

Elaboración y caracterización de varistores cerámicos 73
O. Alvarez-Fregoso, J. A. Chavez C., Heriberto Aguilar y M. Díaz H.

Caracterización estructural de modelos de catalizadores de Rh/SiO2 78
Luis Rendón, P. Santiago, P. Schabes-Retchkiman.

Amplificación del campo eléctrico dentro de una acanaladura metálica: polarización T. E. 83
A. Zuñiga Segundo y O. Mata Mendez.

Medidor de ionización desnudo para alto vacío 87
Apátiga L. M., Alba F. y Flores D.

Emisión óptica de superconductores Eu1Ba2Cu3O7-x 90
R. Rodríguez, R. Pérez y R. Escudero.

Caracterización del Oxido La1-gSrgMnO3 con técnicas de difracción 94
Oel Guzmán y Paz del Angel.