Vol. 15 (2002)

December, 2002.

Edited by: M. Meléndez Lira, Máximo López López

Evaluación de alta exactitud de errores sistemáticos en espectroscopía de niveles hiperfinos del Cs-133 1
Sergio López-López, J. Mauricio López-Romero, Iván Domínguez-López, Eduardo De Carlos, Hagman Ramírez-Reyes

Estudio de películas delgadas de Cd1-xZnxTe, para 0<x<1, utilizando la técnica CSVTFE 9
M. Zapata-Torres, O. Calzadilla Amaya y J. L. Peña, R. Castro-Rodríguez,, M. Meléndez-Lira

Surface transition metal magnetism 13
A. Rubio-Ponce, A. E. García, R. Baquero

Preparation and optical absorption of colloidal dispersion of Au/Cu nanoparticles 16
J. F. Sánchez-Ramírez, C. Vázquez-López, U. Pal

Transition from CdS to CdCO3 by deposition temperature influence 19
O. Portillo-Moreno, H. Lima-Lima, R. Lozada-Morales, R. Palomino-Merino, A. B. Soto, O. Zelaya-Angel

Raman and Hall characterization of AlGaAs epilayers grown by MOCVD using elemental arsenic 22
J. Díaz-Reyes, R. Castillo-Ojeda, M. Galván-Arellano and R. Peña-Sierra

Efecto de los contactos en películas delgadas de GeSbTe 26
E. Morales-Sánchez, E.F. Prokhorov, J. González-Hernández, A. Mendoza-Galván

Análisis AES y XPS de películas delgadas de oxidos de CdTe crecidas por sputtering en Ar-N2O 30
Bartolo-Pérez P., Jhonny Ceh, Peña J.L., Zapata-Navarro A., Farias M.H.

XPS, AES and EELS study of the bonding character in CNx films 34
G. Soto, E.C. Sámano, R. Machorro, F.F. Castillón, M.H. Farías and L. Cota-Araiza.

Restrained relaxation of stress in a MBE-grown thin film of CaF2 on (111) silicon 40
A. Zehe, A Ramírez, A. Tempel, E. Torres-Tapia

Modelado de la región de deserción en la estructura Aluminio/SRO/ Silicio 45
J. A. Luna-López, J. Carrillo-López, M. Aceves-Mijares

Simulación de curvas C-V y C-t para la caracterización eléctrica de dispositivos MIS 50
G. Francisco Pérez-Sánchez, Jesús Carrillo-López, Adán Luna-Flores, Arturo Morales-Acevedo

Caracterización eléctrica mediante C-V y C-t de dispositivos MIS con oxinitruros de silicio depositados por LPCVD 55
G. Francisco Pérez-Sánchez, Jesús Carrillo-LópezArturo Morales-Acevedo

On Transformation of a-Si:H surface to Very Thin Insulating Overlayer of Device Quality Due to Very Low-Energy Particle Impacts 59
E. Pinčík, R. Brunner, V.Nádaždy, K. Gmucová, M. Jergel, C. Falcony, H. Glesková,L. Ortega, J. Müllerová, R. Durný